Atomic layer deposition of high k dielectric films

阅读量:

18

申请(专利)号:

AU20030254047

申请日期:

2003-07-21

公开/公告号:

AU2003254047A1

公开/公告日期:

2004-02-09

申请(专利权)人:

ASML US, INC.

发明人:

YOSHIHIDE SENZAKISANG-IN LEE

展开

被引量:

7

摘要:

A method of processing a semiconductor substrate includes reacting in a reactor a first reactant gas, evacuating the first reactant gas from the reactor, reacting a second reactant gas, and evacuating the second reactant gas. The reacting of the first reactant gas reacts the first reactant gas with an exposed surface of the semiconductor substrate in a reactor to convert the exposed surface into a solid mono-layer. The reacting of the second reactant gas reacts the second reactant gas with the solid mono-layer in the reactor to convert the solid mono-layer into a gaseous compound. The evacuating of the second reactant gas also evacuates the gaseous compound from the reactor.

展开

通过文献互助平台发起求助,成功后即可免费获取论文全文。

相似文献

参考文献

引证文献

引用走势

2006
被引量:3

站内活动

辅助模式

0

引用

文献可以批量引用啦~
欢迎点我试用!

关于我们

百度学术集成海量学术资源,融合人工智能、深度学习、大数据分析等技术,为科研工作者提供全面快捷的学术服务。在这里我们保持学习的态度,不忘初心,砥砺前行。
了解更多>>

友情链接

百度云百度翻译

联系我们

合作与服务

期刊合作 图书馆合作 下载产品手册

©2025 Baidu 百度学术声明 使用百度前必读

引用