显微组织对TC4ELI合金疲劳裂纹扩展路径及扩展速率的影响
摘要：
利用SEM观察了疲劳裂纹在具有片层组织的TC4ELI合金中的扩展路径,通过统计疲劳裂纹与α片层所呈的角度,分析了α和β两相晶体学取向对疲劳裂纹扩展路径的影响.基于对疲劳裂纹扩展路径的研究,测试并讨论了片层组织中晶粒和α片层对近门槛值阶段及Paris区阶段疲劳裂纹扩展速率的影响.研究表明,疲劳裂纹在片层组织中扩展时,疲劳裂纹在穿过α片层时倾向于沿平行或垂直于α片层的方向扩展,导致疲劳裂纹扩展路径每隔几个片层宽度出现扩展台阶;影响近门槛值阶段疲劳裂纹扩展速率的主要因素是α片层厚度,而与晶粒尺寸无关;在Paris阶段,晶粒尺寸、α片层厚度和片层长/宽比均对裂纹扩展速率产生影响.
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DOI：
10.3724/SP.J.1037.2010.00155
被引量：
年份：
2010
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